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上海仪电物光显微熔点测定仪价格表

点击: 次 时间:2016-04-05 17:35

产品型号

主要技术参数

市场价格(元)

优惠价格(元)

 

 

SGW X-4A

熔点测量范围:室温至320℃

测量重复性:

±1℃ (在<200℃ 时),±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时)

温度显示最小值:0.1℃

熔点观察方式 :单目显微镜

光学放大倍数 :40×

 

 

4800

 

 

3840

 

 

SGW X-4

熔点测量范围:室温至320℃

测量重复性:

±1℃ (在<200℃ 时), 

±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时)

温度显示最小值: 1℃

熔点观察方式: 单目显微镜

光学放大倍数 :40×

 

 

3800

 

 

3040

 

 

SGW X-4B

熔点测量范围:室温至320℃ 

测量重复性:

±1℃ (在<200℃ 时)

±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时) 

温度显示最小值:0.1℃

熔点观察方式: 双目显微镜 

光学放大倍数: 40-100X

 

 

5800

 

 

4640




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